在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。

测定原理：侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。

技术规格：

测定波长：2～22μm

测定范围：放射率0.00～1.00

测量精度：±0.01以内

测定面积：Φ15mm

测定距离：12mm

材料温度：10～40℃（室温）

数值显示：LED数位显示

输　　出：0～0.1V；0～1V Full-Scale

环境温度：10～45℃

环境湿度：35～85％（无结露状态）

使用电源：AC220V, 60Hz

外型尺寸：本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg

　　　　　探侧头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg

附 属 品：放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个。

制 造 商：日本侦测器株式会社